WPA-200 雙折射薄膜應(yīng)力檢測儀是一款由日本 Photonic Lattice 公司以光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的光學測量產(chǎn)品。以下是它的一些主要特點、技術(shù)參數(shù)和應(yīng)用領(lǐng)域：

1. 主要特點：

• 操作簡單、測量快速：測量速度可以快至 3 秒，能夠快速獲取測量結(jié)果，提高檢測效率。

• 視野范圍廣、一次測量：采用 CCD camera，可對視野范圍內(nèi)的樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布情況，減少測量的誤差和不確定性。

• 數(shù)據(jù)直觀：測量數(shù)據(jù)以二維分布圖像呈現(xiàn)，能夠更直觀地讀取數(shù)據(jù)，方便用戶進行分析和判斷。

• 分析功能多：具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較功能，幫助用戶更好地理解和評估樣品的雙折射和應(yīng)力情況。

• 維護簡單：不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構(gòu)，降低了儀器的維護成本和復雜度。

2. 技術(shù)參數(shù)：

• 輸出項目：可輸出相位差（單位：nm）、軸方向（單位：°），并且選配功能可實現(xiàn)相位差與應(yīng)力換算（單位：MPa）。

• 測量波長：有 520nm、543nm、575nm 等多個測量波長可供選擇。

• 雙折射測量范圍：0 - 3500nm，適用于多種材料的雙折射測量。

• 測量最小分辨率：0.001nm，具有較高的測量精度。

• 測量重復精度：小于 1nm（西格瑪），保證了測量結(jié)果的可靠性和穩(wěn)定性。

• 視野尺寸：標準視野尺寸為 218x290mm - 360×480mm，不同的選配鏡頭可能會有不同的視野范圍。

3. 應(yīng)用領(lǐng)域：

• 光學材料研究：可用于評估各類光學薄膜（如反射膜、增透膜等）的性能，以及分析新型光學晶體的雙折射特性，為光學材料的研發(fā)和生產(chǎn)提供重要的參數(shù)支持。

• 顯示技術(shù)：在液晶顯示器（LCD）面板和有機發(fā)光二極管（OLED）的生產(chǎn)中，可檢測面板中的相位差分布，幫助研發(fā)和優(yōu)化光學層，提高顯示質(zhì)量。

• 塑料制品行業(yè)：能夠測量透明塑料制品中的應(yīng)力分布，評估產(chǎn)品質(zhì)量，為改進塑料加工工藝提供依據(jù)，減少雙折射現(xiàn)象對產(chǎn)品性能的影響。

• 半導體制造：可用于檢測硅片等半導體材料的雙折射，確保半導體材料符合制造要求，提高半導體器件的性能和可靠性。

• 科研領(lǐng)域：在物理學研究中，可用于探究光與物質(zhì)相互作用時的雙折射現(xiàn)象；在生物醫(yī)學研究中，可提供細胞和組織的光學特性分析，為相關(guān)研究提供有力的工具。