WPA-200 系列相位差應(yīng)力儀是由日本 Photonic Lattice 公司以光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的光學(xué)測量產(chǎn)品。以下是其相關(guān)信息：

1. 特點(diǎn)：

• 操作簡便與測量快速：操作簡單易懂，測量速度快，可在 3 秒內(nèi)完成一次測量，極大提高了檢測效率。

• 視野廣闊與一次測量：采用 CCD camera，能夠?qū)σ曇胺秶鷥?nèi)的樣品進(jìn)行一次性測量，從而全面掌握應(yīng)力分布情況，減少測量誤差和不確定性。

• 數(shù)據(jù)直觀呈現(xiàn)：測量數(shù)據(jù)以二維分布圖像的形式展示，用戶可以更直觀地讀取數(shù)據(jù)，并且還具備多種分析功能以及測量結(jié)果的比較功能，幫助用戶更好地理解和評估樣品的雙折射和應(yīng)力情況。

• 維護(hù)成本低：儀器不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)，降低了維護(hù)成本和復(fù)雜度。

2. 技術(shù)參數(shù)：

• 輸出項(xiàng)目：可輸出相位差（單位：nm）、軸方向（單位：°），通過選配功能還可實(shí)現(xiàn)相位差與應(yīng)力換算（單位：MPa）。

• 測量波長：有 523nm、543nm、575nm 等多個(gè)測量波長可供選擇。

• 雙折射測量范圍：0 - 3500nm，部分型號(hào)可拓展至 10000nm，適用于多種材料的雙折射測量。

• 測量最小分辨率：0.001nm，具有較高的測量精度。

• 測量重復(fù)精度：小于 1nm（西格瑪），保證了測量結(jié)果的可靠性和穩(wěn)定性。

• 視野尺寸：標(biāo)準(zhǔn)視野尺寸因型號(hào)而異，例如標(biāo)準(zhǔn)鏡頭下 WPA-200 的觀測面積約為 27×36mm 至約 100×133mm，WPA-200-L 的觀測面積約為 33×44mm 至約 240×320mm。

3. 應(yīng)用領(lǐng)域：

• 光學(xué)材料研究：可用于評估各類光學(xué)薄膜（如反射膜、增透膜等）的性能，以及分析新型光學(xué)晶體的雙折射特性，為光學(xué)材料的研發(fā)和生產(chǎn)提供重要的參數(shù)支持。

• 顯示技術(shù)：在液晶顯示器（LCD）面板和有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）的生產(chǎn)中，可檢測面板中的相位差分布，幫助研發(fā)和優(yōu)化光學(xué)層，提高顯示質(zhì)量。

• 塑料制品行業(yè)：能夠測量透明塑料制品中的應(yīng)力分布，評估產(chǎn)品質(zhì)量，為改進(jìn)塑料加工工藝提供依據(jù)，減少雙折射現(xiàn)象對產(chǎn)品性能的影響。

• 半導(dǎo)體制造：可用于檢測硅片等半導(dǎo)體材料的雙折射，確保半導(dǎo)體材料符合制造要求，提高半導(dǎo)體器件的性能和可靠性。

• 科研領(lǐng)域：在物理學(xué)研究中，可用于探究光與物質(zhì)相互作用時(shí)的雙折射現(xiàn)象；在生物醫(yī)學(xué)研究中，可提供細(xì)胞和組織的光學(xué)特性分析，為相關(guān)研究提供有力的工具。

該系列產(chǎn)品有多種型號(hào)，如 WPA-200、WPA-200-L、WPA-200-XL、WPA-200-MT 等，各型號(hào)在尺寸、重量、適用的測量場景等方面可能會(huì)有所不同。