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散亂光光彈性應(yīng)力儀SLP-2000（518nm）技術(shù)規(guī)格書.pdf
散亂光光彈性應(yīng)力儀SLP-2000（518nm）技術(shù)規(guī)格書
1. 設(shè)備名稱：散亂光光彈性應(yīng)力儀
2. 設(shè)備型號：SLP-2000（518nm）
3. 主要技術(shù)規(guī)格：
3.1 利用散亂光光彈性的原理來測量以往無法測量的鋰鈉離子交換的化學(xué)強(qiáng)化玻璃。
3.2 若表面附近有鉀離子層，可以與表面應(yīng)力計(jì)FSM-6000的數(shù)據(jù)進(jìn)行相結(jié)合來分析斷面的應(yīng)力分布。
3.3 應(yīng)力測量范圍：0-2000MPa
3.4 應(yīng)力測量精度：從表面起深度50um以上 ±10MPa（標(biāo)準(zhǔn)片為基準(zhǔn)）
3.5 應(yīng)力層深度測量范圍：10-600um
3.6 應(yīng)力層深度測量精度：±10um（標(biāo)準(zhǔn)片為基準(zhǔn)）
3.7 光源：LD 520±10nm 30mw Class 3B
3.8 測量對象：化學(xué)強(qiáng)化玻璃、2段強(qiáng)化玻璃、物理強(qiáng)化玻璃
3.9 測量形狀：平面-1000R 10 x 10mm以上
3.10 三棱鏡折射率：1.518@518nm
3.11 PC：專用（OS、測量軟件安裝完成）
3.12 OS：Windows10
3.13 尺寸：W320*D280*H220mm（本體）
3.14 重量：16kg（本體）
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